כללי
מספר פטנט:
230903
שם האמצאה:
שיטה ומתקן מטרולוגי ושיטה לייצור מכשיר
שם באנגלית:
METROLOGY METHOD AND APPARATUS, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2013/026598 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 61/526651 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/EP/2012/062555 משרד הפטנטים האירופי (EP)
בקשת PCT 230903 ישראל (IL)
פרסום לאומי 230903 ישראל (IL)
  סיווגים (IPC)
  • G03F: פיזיקה > צילום; סינמטוגרפיה; טכניקות אנלוגיות באמצעות גלים שאינם אופטיים; אלקטרוגרפיה; הולוגרפיה