קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
שיטה ומתקן להשגת ספקטרום רב–מימדי בסריקה בודדת
פטנט 220203
כללי
מספר פטנט:
220203
שם האמצאה:
שיטה ומתקן להשגת ספקטרום רב–מימדי בסריקה בודדת
שם באנגלית:
METHOD AND APPARATUS FOR ACQUIRING MULTIDIMENSIONAL SPECTRA WITHIN A SINGLE SCAN
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2004/011899
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
26/07/2002
דין קדימה
60/398822
ארה"ב (US)
07/07/2003
בקשה בינלאומית
PCT/US/2003/021314
ארה"ב (US)
06/06/2012
בקשת PCT
220203
ישראל (IL)
28/05/2014
פרסום לאומי
220203
ישראל (IL)
מגיש
שם:
YEDA RESEARCH AND DEVELOPMENT CO. LTD.
כתובת:
At the Weizmann Institute of Science P.O.Box 95 Rehovot 7610002 , IL
מדינה:
ישראל
טלפון:
08-470617
פקס:
08-470739
מסירת הודעות
שם:
ד" ר וב ושות'
כתובת:
רח' פקריס 3, רחובות 76121
מדינה:
ישראל
טלפון:
08-9470830
פקס:
08-9470860
דוא"ל:
ipo@wbpatents.com
סוכן
שם:
ד" ר וב ושות'
כתובת:
רח' פקריס 3, רחובות 76121
מדינה:
ישראל
טלפון:
08-9470830
פקס:
08-9470860
דוא"ל:
ipo@wbpatents.com
סוכן
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
שיטה ומתקן להשגת ספקטרום רב–ממדי בסריקה בודדת
שיטה והתקן לקבלת ספקטרום רב מימדי וספקטרא חד–מימדית משופרת בסריקה אחת
שיטה לזיהוי ספקטרה
מודל ושיטה לאיחסון רב מימדי
שיטה ומכשיר לשינוי (TRANSFORM) רב–גלונים (MULTIWAVELET) רב מימדי בדיד