שיטה והתקן לקבלת ספקטרום רב מימדי וספקטרא חד–מימדית משופרת בסריקה אחת - פטנט 176068 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 176068
שם האמצאה:: שיטה והתקן לקבלת ספקטרום רב מימדי וספקטרא חד–מימדית משופרת בסריקה אחת
שם באנגלית:: METHOD AND APPARATUS FOR ACQUIRING MULTIDIMENSIONAL SPECTRA AND IMPROVED UNIDIMENSIONAL SPECTRA WITHIN A SINGLE SCAN

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2005/062753	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
04/12/2003	דין קדימה	10/728069	ארה"ב (US)
03/12/2004	בקשה בינלאומית	PCT/US/2004/040449	ארה"ב (US)
31/05/2006	בקשת PCT	176068	ישראל (IL)
24/03/2013	פרסום לאומי	176068	ישראל (IL)

מגיש

שם:: YEDA RESEARCH AND DEVELOPMENT CO. LTD.
כתובת:: At the Weizmann Institute of Science P.O.Box 95 Rehovot 7610002 , IL
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-470617
פקס:: 08-470739

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים