שיטה ומתקן להשגת ספקטרום רב–ממדי בסריקה בודדת - פטנט 166417 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 166417
שם האמצאה:: שיטה ומתקן להשגת ספקטרום רב–ממדי בסריקה בודדת
שם באנגלית:: METHOD AND APPARATUS FOR ACQUIRING MULTIDIMENSIONAL SPECTRA WITHIN A SINGLE SCAN

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2004/011899	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
26/07/2002	דין קדימה	60/398822	ארה"ב (US)
07/07/2003	בקשה בינלאומית	PCT/US/2003/021314	ארה"ב (US)
20/01/2005	בקשת PCT	166417	ישראל (IL)
30/08/2012	פרסום לאומי	166417	ישראל (IL)

מגיש

שם:: YEDA RESEARCH AND DEVELOPMENT CO. LTD.
כתובת:: At the Weizmann Institute of Science P.O.Box 95 Rehovot 7610002 , IL
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-470617
פקס:: 08-470739

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: לוצאטו את לוצאטו
כתובת:: גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:: ישראל
טלפון:: 0732262626
פקס:: 073-2262627
דוא"ל:: ilpto@luzzatto.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים