כללי
מספר פטנט:
201926
שם האמצאה:
שיטה לייצור של התקן מוליך למחצה תוך יישום של שכבת קרבן
שם באנגלית:
METHOD FOR MAKING A SEMICONDUCTOR DEVICE IMPLEMENTING A SACRIFICIAL LAYER
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2002/103791 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 09/821415 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/US/2002/009617 ארה"ב (US)
בקשת PCT 201926 ישראל (IL)
פרסום לאומי 201926 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
LAM RESEARCH CORPORATION
  מגיש/ממציא
שם:
YEHIEL GOTKIS
  מגיש/ממציא
שם:
DAVID WEI
  מגיש/ממציא
שם:
RODNEY KISTLER