מערך מבחן למיקרוסקופ סורק - פטנט 123009 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 123009
שם האמצאה:: מערך מבחן למיקרוסקופ סורק
שם באנגלית:: PROBE ARRAY FOR A SCANNING PROBE MICROSCOPE

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
21/01/1997	דין קדימה	19701701.0	גרמניה (DE)
20/01/1998	בקשה לאומית	123009	ישראל (IL)
23/12/2001	פרסום לאומי	123009	ישראל (IL)

מגיש

שם:: CARL-ZEISS-STIFTUNG TRADING AS CARL ZEISS
כתובת:: 89518 HEIDENHEIM (BRENZ) , DE
מדינה:: גרמניה

מסירת הודעות

שם:: ש. הורוביץ ושות'
כתובת:: רחוב אחד העם 31, תל אביב 65202
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-5670700
פקס:: 03-5660974
דוא"ל:: patents@s-horowitz.co.il

סוכן

שם:: ש. הורוביץ ושות'
כתובת:: רחוב אחד העם 31, תל אביב 65202
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-5670700
פקס:: 03-5660974
דוא"ל:: patents@s-horowitz.co.il

מסמכים

פטנטים דומים