מיקרוסקופ בוחן סורק (SCANNING PROBE MICROSCOPE ) ושיטה לזיהוי קירבת בוחן (PROBE) עבורו - פטנט 217151 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 217151
שם האמצאה:: מיקרוסקופ בוחן סורק (SCANNING PROBE MICROSCOPE ) ושיטה לזיהוי קירבת בוחן (PROBE) עבורו
שם באנגלית:: SCANNING PROBE MICROSOPE AND PROBE PROXIMITY DETECTION METHOD THEREFOR

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2010/150756	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
23/06/2009	דין קדימה	2009-149205	יפן (JP)
08/02/2010	דין קדימה	2010-025975	יפן (JP)
21/06/2010	בקשה בינלאומית	PCT/JP/2010/060494	יפן (JP)
22/12/2011	בקשת PCT	217151	ישראל (IL)
29/02/2012	פרסום לאומי	217151	ישראל (IL)

סיווגים (IPC)

G01Q: פיזיקה > מדידה; בדיקה

מגיש

שם:: KYOTO UNIVERSITY

מגיש/ממציא

שם:: KATSUHITO NISHIMURA

מגיש/ממציא

שם:: YOICHI KAWAKAMI

מגיש/ממציא

שם:: MITSURU FUNATO

מגיש/ממציא

שם:: AKIO KANETA

מגיש/ממציא

שם:: TSUNEAKI HASHIMOTO

פטנטים דומים