קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
במת סריקה שטוחה למיקרוסקופיה בישום " סריקת פרוב"
פטנט 111491
כללי
מספר פטנט:
111491
שם האמצאה:
במת סריקה שטוחה למיקרוסקופיה בישום " סריקת פרוב"
שם באנגלית:
A FLAT SCANNING STAGE FOR SCANNED PROBE MICROSCOPY
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
01/11/1994
בקשה לאומית
111491
ישראל (IL)
24/01/1995
פרסום לאומי
111491
ישראל (IL)
מגיש
שם:
AARON LEWIS
מגיש
שם:
KLONY LIEBERMAN
פטנטים דומים
התקן ושיטה למיקרוסקופיה בלייזר-תירה
שיטה והתקן למיקרוסקופיית סריקה אופטית בשדה קרוב
מערכת ושיטה למיקרוסקופיה קומפקטי
תא לחץ נמוך למיקרוסקופ אלקטרוני סורק להדמיה בסביבה רטובה
התקן לסריקת דגימת נוזל לשימוש במיקרוסקופ אלקטרוני סורק