מכשיר למדידת עובי של שכבות דקות - פטנט 107549 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 107549
שם האמצאה:: מכשיר למדידת עובי של שכבות דקות
שם באנגלית:: DEVICE FOR MEASURING THE THICKNESS OF THIN FILMS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
09/11/1993	בקשה לאומית	107549	ישראל (IL)
31/01/1996	פרסום לאומי	107549	ישראל (IL)

מגיש

שם:: NOVA MEASURING INSTRUMENTS LTD.
כתובת:: P.O.B. 266, WEIZMANN SCIENTIFIC PARK, REHOVOT 76100 , IL
מדינה:: ישראל

מסירת הודעות

שם:: נובה מכשירי מדידה בע" מ
כתובת:: וייצמן פארק למדע, רחובות 76100
מדינה:: ישראל

מסמכים

פטנטים דומים