התקן ושיטה למדידת עוביים של קרומים דקים - פטנט 104001 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 104001
שם האמצאה:: התקן ושיטה למדידת עוביים של קרומים דקים
שם באנגלית:: APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING THE THICKNESS OF THIN FILMS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
06/12/1991	דין קדימה	804872	ארה"ב (US)
06/12/1992	בקשה לאומית	104001	ישראל (IL)
24/01/1995	פרסום לאומי	104001	ישראל (IL)

מגיש

שם:: IPEC PRECISION, INC.
כתובת:: 3 BERKSHIRE BLVD. BETHEL CONNECTICUT , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים