מדידה אלקטרו אופטית של היסטריסיס במודולטורים אינטר פרומטריים - פטנט 169744 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 169744
שם האמצאה:: מדידה אלקטרו אופטית של היסטריסיס במודולטורים אינטר פרומטריים
שם באנגלית:: ELECTRO-OPTICAL MEASUREMENT OF HYSTERESIS IN INTERFEROMETRIC MODULATORS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
27/09/2004	דין קדימה	60/613537	ארה"ב (US)
04/03/2005	דין קדימה	11/073295	ארה"ב (US)
18/07/2005	בקשה לאומית	169744	ישראל (IL)
21/02/2006	פרסום לאומי	169744	ישראל (IL)

מגיש

שם:: IDC, LLC.

פטנטים דומים