מכשיר ושיטה לבדיקת דוגמה באמצעות ריבוי של אלומות חלקיקים טעונים - פטנט 248778 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 248778
שם האמצאה:: מכשיר ושיטה לבדיקת דוגמה באמצעות ריבוי של אלומות חלקיקים טעונים
שם באנגלית:: APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING A SAMPLE USING A PLURALITY OF CHARGED PARTICLE BEAMS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2015/170969	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
08/05/2014	דין קדימה	2012780	הולנד (NL)
23/04/2015	בקשה בינלאומית	PCT/NL/2015/050271	הולנד (NL)
06/11/2016	בקשת PCT	248778	ישראל (IL)
31/01/2017	פרסום לאומי	248778	ישראל (IL)

סיווגים (IPC)

H01J: חשמל > אלמנטים חשמליים בסיסיים

מגיש

שם:: TECHNISCHE UNIVERSITEIT DELFT

פטנטים דומים