בדיקה אופטית משופרת באמצעות קיטוב - פטנט 243165 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 243165
שם האמצאה:: בדיקה אופטית משופרת באמצעות קיטוב
שם באנגלית:: ENHANCED OPTICAL INSPECTION USING POLARIZATION

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
18/12/2014	דין קדימה	62/093462	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
18/12/2014	דין קדימה	62/093468	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
24/02/2015	דין קדימה	62/119846	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
16/12/2015	בקשה לאומית	243165	ישראל (IL)
29/02/2016	פרסום לאומי	243165	ישראל (IL)

סיווגים (IPC)

G01N: פיזיקה > מדידה; בדיקה

מגיש

שם:: CAMTEK IMAGING TECHNOLOGY (SUZHOU) CO., LTD

מגיש/ממציא

שם:: NOAM GORDON

מגיש/ממציא

שם:: ITAY COHEN

מגיש/ממציא

שם:: AMIR TZHORI

פטנטים דומים