בדיקת נתח עם קוטביות משתנה - פטנט 235046 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 235046
שם האמצאה:: בדיקת נתח עם קוטביות משתנה
שם באנגלית:: VARIABLE POLARIZATION WAFER INSPECTION

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2013/155008	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
09/04/2012	דין קדימה	61/621715	ארה"ב (US)
05/04/2013	דין קדימה	13/857744	ארה"ב (US)
08/04/2013	בקשה בינלאומית	PCT/US/2013/035660	ארה"ב (US)
07/10/2014	בקשת PCT	235046	ישראל (IL)
31/12/2014	פרסום לאומי	235046	ישראל (IL)

סיווגים (IPC)

H01L: חשמל > אלמנטים חשמליים בסיסיים

מגיש

שם:: KLA-TENCOR CORPORATION

פטנטים דומים