כללי
מספר פטנט:
228201
שם האמצאה:
מצע ומכשיר לעיצוב דפוסים לשימוש במטרולוגיה, שיטת מטרולוגית ושיטת ייצור מכשור
שם באנגלית:
SUBSTRATE AND PATTERNING DEVICE FOR USE IN METROLOGY, METROLOGY METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2012/126684 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 61/467080 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/EP/2012/052862 משרד הפטנטים האירופי (EP)
בקשת PCT 228201 ישראל (IL)
פרסום לאומי 228201 ישראל (IL)
  סיווגים (IPC)
  • G03F: פיזיקה > צילום; סינמטוגרפיה; טכניקות אנלוגיות באמצעות גלים שאינם אופטיים; אלקטרוגרפיה; הולוגרפיה