קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
שיטה ומערכת לגילוי פגמים
פטנט 211518
כללי
מספר פטנט:
211518
שם האמצאה:
שיטה ומערכת לגילוי פגמים
שם באנגלית:
METHOD AND APPARATUS FOR DEFECT DETECTION
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2010/025667
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
02/09/2008
דין קדימה
200806868-6
סינגפור (SG)
02/09/2009
בקשה בינלאומית
PCT/CN/2009/073687
סין (CN)
02/03/2011
בקשת PCT
211518
ישראל (IL)
31/05/2011
פרסום לאומי
211518
ישראל (IL)
סיווגים (IPC)
G01N : פיזיקה > מדידה; בדיקה
מגיש
שם:
TGT ENTERPRISES LTD
פטנטים דומים
ציוד אלקטרומגנטי לגילוי
שיטה ומערכת לגילוי אוטומטי של פגם במוצרים במכונות בדיקה חזותית
שיטה ומערכת לגילוי אוטומטי של פגמים בעצמים במכונות בחינה חזותיות
גילוי פגם באמצעות השוואת דמויות ע" י שימוש במדדים יחסיים
מערכת גילוי פגמים בעלת רב–גלאיים ושיטה לגילוי פגמים