מערכת גילוי פגמים בעלת רב–גלאיים ושיטה לגילוי פגמים - פטנט 164036 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 164036
שם האמצאה:: מערכת גילוי פגמים בעלת רב–גלאיים ושיטה לגילוי פגמים
שם באנגלית:: MULTI-DETECTOR DEFECT DETECTION SYSTEM AND A METHOD FOR DETECTING DEFECTS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2003/078987	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
12/03/2002	דין קדימה	10/097442	ארה"ב (US)
12/03/2003	בקשה בינלאומית	PCT/US/2003/007662	ארה"ב (US)
12/09/2004	בקשת PCT	164036	ישראל (IL)
30/08/2012	פרסום לאומי	164036	ישראל (IL)

מגיש

שם:: APPLIED MATERIALS INC
כתובת:: P.O.BOX 450A SANTA CLARA CA 95052 , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:: שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-9455122
פקס:: 08-9454556
דוא"ל:: colbpat@stc.co.il

סוכן

שם:: סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:: שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-9455122
פקס:: 08-9454556
דוא"ל:: colbpat@stc.co.il

מסמכים

פטנטים דומים