התקן ושיטה למדידת תכונה של סובסטרט - פטנט 208570 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 208570
שם האמצאה:: התקן ושיטה למדידת תכונה של סובסטרט
שם באנגלית:: APPARATUS AND METHOD OF MEASURING A PROPERTY OF A SUBSTRATE

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2009/129974	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
21/04/2008	דין קדימה	61/071281	ארה"ב (US)
20/04/2009	בקשה בינלאומית	PCT/EP/2009/002857	משרד הפטנטים האירופי (EP)
07/10/2010	בקשת PCT	208570	ישראל (IL)
31/01/2016	פרסום לאומי	208570	ישראל (IL)

מגיש

שם:: ASML NETHERLANDS B.V.
כתובת:: DE RUN 6501 NL-5504 DR VELDHOVEN , NL
מדינה:: הולנד

מסירת הודעות

שם:: לוצאטו את לוצאטו
כתובת:: גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:: ישראל
טלפון:: 073-2262626
פקס:: 073-2262627
דוא"ל:: ilpto@luzzatto.co.il

סוכן

שם:: לוצאטו את לוצאטו
כתובת:: גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:: ישראל
טלפון:: 073-2262626
פקס:: 073-2262627
דוא"ל:: ilpto@luzzatto.co.il

מסמכים

פטנטים דומים