מכשיר ושיטה מטרולוגית, מתקן ליטוגרפי ושיטה לייצורו - פטנט 207506 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 207506
שם האמצאה:: מכשיר ושיטה מטרולוגית, מתקן ליטוגרפי ושיטה לייצורו
שם באנגלית:: METROLOGY METHOD AND APPARATUS, LITHOGRAPHIC APPARATUS AND DEVICE MANUFACTURING METHOD

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2009/106279	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
29/02/2008	דין קדימה	61/064358	ארה"ב (US)
23/02/2009	בקשה בינלאומית	PCT/EP/2009/001271	משרד הפטנטים האירופי (EP)
09/08/2010	בקשת PCT	207506	ישראל (IL)
31/12/2014	פרסום לאומי	207506	ישראל (IL)

מגיש

שם:: ASML NETHERLANDS B.V.
כתובת:: DE RUN 6501 NL-5504 DR VELDHOVEN , NL
מדינה:: הולנד

מסירת הודעות

שם:: לוצאטו את לוצאטו
כתובת:: גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:: ישראל
טלפון:: 073-2262626
פקס:: 073-2262627
דוא"ל:: ilpto@luzzatto.co.il

סוכן

שם:: לוצאטו את לוצאטו
כתובת:: גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:: ישראל
טלפון:: 073-2262626
פקס:: 073-2262627
דוא"ל:: ilpto@luzzatto.co.il

מסמכים

פטנטים דומים