כללי
מספר פטנט:
206290
שם האמצאה:
כלי מדידה עילי מבוסס דיפרקציה ושיטת מדידה עילי מבוסס דיפרקציה
שם באנגלית:
DIFFRACTION BASED OVERLAY METROLOGY TOOL AND METHOD OF DIFFRACTION BASED OVERLAY METROLOGY
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2009/078708 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 61/006073 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/NL/2008/050785 הולנד (NL)
בקשת PCT 206290 ישראל (IL)
פרסום לאומי 206290 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
ASML NETHERLANDS B.V.
כתובת:
DE RUN 6501 NL-5504 DR VELDHOVEN , NL
מדינה:
הולנד
  מסירת הודעות
שם:
לוצאטו את לוצאטו
כתובת:
גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:
ישראל
טלפון:
073-2262626
פקס:
073-2262627
דוא"ל:
ilpto@luzzatto.co.il
  סוכן
שם:
לוצאטו את לוצאטו
כתובת:
גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:
ישראל
טלפון:
073-2262626
פקס:
073-2262627
דוא"ל:
ilpto@luzzatto.co.il