קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
כלי מדידה עילי מבוסס דיפרקציה ושיטת מדידה עילי מבוסס דיפרקציה
פטנט 206290
כללי
מספר פטנט:
206290
שם האמצאה:
כלי מדידה עילי מבוסס דיפרקציה ושיטת מדידה עילי מבוסס דיפרקציה
שם באנגלית:
DIFFRACTION BASED OVERLAY METROLOGY TOOL AND METHOD OF DIFFRACTION BASED OVERLAY METROLOGY
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2009/078708
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
17/12/2007
דין קדימה
61/006073
ארה"ב (US)
09/12/2008
בקשה בינלאומית
PCT/NL/2008/050785
הולנד (NL)
10/06/2010
בקשת PCT
206290
ישראל (IL)
31/01/2016
פרסום לאומי
206290
ישראל (IL)
מגיש
שם:
ASML NETHERLANDS B.V.
כתובת:
DE RUN 6501 NL-5504 DR VELDHOVEN , NL
מדינה:
הולנד
מסירת הודעות
שם:
לוצאטו את לוצאטו
כתובת:
גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:
ישראל
טלפון:
073-2262626
פקס:
073-2262627
דוא"ל:
ilpto@luzzatto.co.il
סוכן
שם:
לוצאטו את לוצאטו
כתובת:
גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:
ישראל
טלפון:
073-2262626
פקס:
073-2262627
דוא"ל:
ilpto@luzzatto.co.il
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
שיטה לעיצוב מטרות מטרולוגיות, מצעים בעלי מטרות מטרולוגיות, שיטה למדידת כיסוי ושיטה להכנת התקן
משחק משולב מבוסס בינגו ומבוסס טריוויה
משקאות המבוססים על קינואה ושיטה לייצור משקאות המבוססים על קינואה
שיטה לגילוי רעלים מבוססת על ביוסנסור ומערכות לאנאליזה של איכות מים ואוויר המבוססות עליה
חישת מיקום באמצעות היבריד מבוסס על מגנטיות ועכבה