כללי
מספר פטנט:
195104
שם האמצאה:
התקן ושיטה לשילוב דגימות של מדידות אינרציאליות מאשכול חיישנים
שם באנגלית:
DEVICE AND METHOD FOR COMBINING SAMPLES FROM AN INERTIAL MEASUREMENT SENSOR CLUSTER
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
בקשה לאומית 195104 ישראל (IL)
פרסום לאומי 195104 ישראל (IL)
  סיווגים (IPC)
  • G01C: פיזיקה > מדידה; בדיקה
  • G01P: פיזיקה > מדידה; בדיקה
  מגיש
שם:
ELBIT SYSTEMS LTD.
כתובת:
HOF HACARMEL P.O.B. 539 HAIFA 31053 , IL
מדינה:
ישראל
  מגיש
שם:
BVR SYSTEMS (1998) LTD.
כתובת:
16 HAMELACHA STREET AFEK INDUSTRIAL PARK ROSH-HA'AYIN 48091 , IL
מדינה:
ישראל
  מגיש/ממציא
שם:
DEKEL TZIDON
כתובת:
59 GALGAL HAMAZALOT STREET HOD HASHARON 45309 , IL
מדינה:
ישראל
  מגיש/ממציא
שם:
ALEX BRAGINSKY
כתובת:
IL
מדינה:
ישראל
  מסירת הודעות
שם:
בורוכוב קורח ושות'
כתובת:
מגדל כלל עתידים, תל-אביב 61580
מדינה:
ישראל
טלפון:
036449922
פקס:
036440999
דוא"ל:
patent.log@teclaw.com
  סוכן
שם:
בורוכוב קורח ושות'
כתובת:
מגדל כלל עתידים, תל-אביב 61580
מדינה:
ישראל
טלפון:
036449922
פקס:
036440999
דוא"ל:
patent.log@teclaw.com