כללי
מספר פטנט:
185599
שם האמצאה:
מערכת ושיטה למדידה אינרציאלית עם גלאי מבטל מיקדם
שם באנגלית:
INERTIAL MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD WITH SENSOR BIAS CANCELLATION
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2006/096245 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 11/072064 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/US/2006/001897 ארה"ב (US)
בקשת PCT 185599 ישראל (IL)
פרסום לאומי 185599 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
CUSTOM SENSORS & TECHNOLOGIES, INC.
כתובת:
14501 PRINCETON AVENUE MOORPARK, CALIFORNIA 93021 , US
מדינה:
ארה"ב
  מסירת הודעות
שם:
וולף, ברגמן וגולר
כתובת:
ירושלים 91013
מדינה:
ישראל
טלפון:
02-6242255
פקס:
6242266
  סוכן
שם:
וולף, ברגמן וגולר
כתובת:
ירושלים 91013
מדינה:
ישראל
טלפון:
02-6242255
פקס:
6242266