קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
שיטה לזיהוי דוגמא ומתקן ליצור דוגמא, שיטה ומתקן חישוף ושיטה ליצור המתקן
פטנט 192122
כללי
מספר פטנט:
192122
שם האמצאה:
שיטה לזיהוי דוגמא ומתקן ליצור דוגמא, שיטה ומתקן חישוף ושיטה ליצור המתקן
שם באנגלית:
PATTERN FORMATION METHOD AND PATTERN FORMATION APPARATUS, EXPOSURE METHOD AND EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2007/077926
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
28/12/2005
דין קדימה
2005-379948
יפן (JP)
28/12/2006
בקשה בינלאומית
PCT/JP/2006/326249
יפן (JP)
12/06/2008
בקשת PCT
192122
ישראל (IL)
29/12/2008
פרסום לאומי
192122
ישראל (IL)
סיווגים (IPC)
H01L : חשמל > אלמנטים חשמליים בסיסיים
מגיש
שם:
NIKON CORPORATION
מגיש/ממציא
שם:
YUICHI SHIBAZAKI
פטנטים דומים
מתקן חשיפה, שיטת חשיפה ושיטה לייצור המתקן
אוכסימים של דיבנזוציקלו - הפטנון ודיבזוציקלו - אוקטאנון והכנתם
שיטה להסרת דוגמה, מכשיר אלקטרוני ושיטה לייצורו
מתקן חשיפה, שיטת חשיפה ושיטה לייצור מתקן עבורם
בנזותיאזופינים ובנזותיאזוצינים והכנתם