שיטה ומערכת לבדיקה האופטית של מבנה מחזורי - פטנט 192020 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 192020
שם האמצאה:: שיטה ומערכת לבדיקה האופטית של מבנה מחזורי
שם באנגלית:: METHOD AND SYSTEM FOR THE OPTICAL INSPECTION OF A PERIODIC STRUCTURE

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2007/079934	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
07/01/2006	דין קדימה	102006000946.0	גרמניה (DE)
19/12/2006	בקשה בינלאומית	PCT/EP/2006/012233	משרד הפטנטים האירופי (EP)
05/06/2008	בקשת PCT	192020	ישראל (IL)
29/12/2008	פרסום לאומי	192020	ישראל (IL)

סיווגים (IPC)

G01N: פיזיקה > מדידה; בדיקה

מגיש

שם:: ISRA VISION AG

פטנטים דומים