קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
בקרת פרוסת מוליך למחצה באמצעות הקרנה מתמשכת של דפקים קצרים בפס רחב
פטנט 183359
כללי
מספר פטנט:
183359
שם האמצאה:
בקרת פרוסת מוליך למחצה באמצעות הקרנה מתמשכת של דפקים קצרים בפס רחב
שם באנגלית:
WAFER INSPECTION USING SHORT-PULSED CONTINUOUS BROADBAND ILLUMINATION
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
26/05/2006
דין קדימה
60/808816
ארה"ב (US)
09/03/2007
דין קדימה
11/684191
ארה"ב (US)
21/05/2007
בקשה לאומית
183359
ישראל (IL)
03/12/2007
פרסום לאומי
183359
ישראל (IL)
מגיש
שם:
NEGEVTECH, LTD.
פטנטים דומים
בדיקת נתח באמצעות אזורי טיפול צורה–חופשית
שיפור לספק כוח פולסים
התקן לייזר בדפקים
שיטה לעיבוד חומר מזון באמצעות קרן לייזר פעימות
מגבר פועם לאנרגיה בעלת תדירות גבוהה