כללי
מספר פטנט:
183359
שם האמצאה:
בקרת פרוסת מוליך למחצה באמצעות הקרנה מתמשכת של דפקים קצרים בפס רחב
שם באנגלית:
WAFER INSPECTION USING SHORT-PULSED CONTINUOUS BROADBAND ILLUMINATION
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
דין קדימה 60/808816 ארה"ב (US)
דין קדימה 11/684191 ארה"ב (US)
בקשה לאומית 183359 ישראל (IL)
פרסום לאומי 183359 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
NEGEVTECH, LTD.