מעטפת עבור דגימות לבחינה ושיטות לשימוש בה - פטנט 181521 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 181521
שם האמצאה:: מעטפת עבור דגימות לבחינה ושיטות לשימוש בה
שם באנגלית:: SAMPLE ENCLOSURE FOR INSPECTION AND METHODS OF USE THEREOF

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2006/021961	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
26/08/2004	דין קדימה	60/604376	ארה"ב (US)
03/01/2005	דין קדימה	60/640247	ארה"ב (US)
25/08/2005	בקשה בינלאומית	PCT/IL/2005/000919	ישראל (IL)
22/02/2007	בקשת PCT	181521	ישראל (IL)
04/07/2007	פרסום לאומי	181521	ישראל (IL)

מגיש

שם:: QUANTOMIX LTD.

פטנטים דומים