קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
מערכת מטרולוגית משולבת והתקן מידע ובקרה לפעולה הדדית עם מערכות מטרולוגיות משולבות
פטנט 181099
כללי
מספר פטנט:
181099
שם האמצאה:
מערכת מטרולוגית משולבת והתקן מידע ובקרה לפעולה הדדית עם מערכות מטרולוגיות משולבות
שם באנגלית:
INTEGRATED METROLOGY SYSTEM AND INFORMATION AND CONTROL APPARATUS FOR INTERACTION WITH INTEGRATED METROLOGY SYSTEMS
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2006/017671
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
03/08/2004
דין קדימה
60/598755
ארה"ב (US)
03/08/2005
בקשה בינלאומית
PCT/US/2005/027761
ארה"ב (US)
01/02/2007
בקשת PCT
181099
ישראל (IL)
30/08/2012
פרסום לאומי
181099
ישראל (IL)
מגיש
שם:
USCL CORPORATION
כתובת:
2433 GARFIELD AVENUE CARMICHAEL, CALIFORNIA 95608 , US
מדינה:
ארה"ב
מסירת הודעות
שם:
וולף, ברגמן וגולר
כתובת:
ירושלים 91013
מדינה:
ישראל
טלפון:
02-6242255
פקס:
6242266
סוכן
שם:
וולף, ברגמן וגולר
כתובת:
ירושלים 91013
מדינה:
ישראל
טלפון:
02-6242255
פקס:
6242266
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
אוכסימים של דיבנזוציקלו - הפטנון ודיבזוציקלו - אוקטאנון והכנתם
בנזותיאזופינים ובנזותיאזוצינים והכנתם
4- ו-7-בנזופוראניל קרבאמטים ותיונוקרבאמטים
מטרולוגיה משלבת קרני-X ואופטיקה
תהליך והתקן למילוי ולסגירה של מיכלים