קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
התקן ושיטה לבחינת עצמים המכילים שטח שקוף
פטנט 179108
כללי
מספר פטנט:
179108
שם האמצאה:
התקן ושיטה לבחינת עצמים המכילים שטח שקוף
שם באנגלית:
DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING OBJECTS THAT INCLUDE A TRANSPARENT REGION
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
07/11/2005
דין קדימה
60/733778
ארה"ב (US)
07/11/2006
בקשה לאומית
179108
ישראל (IL)
08/03/2007
פרסום לאומי
179108
ישראל (IL)
מגיש
שם:
CAMTEK LTD.
מגיש/ממציא
שם:
MEIR BEN LEVI
מגיש/ממציא
שם:
LEV REZNIK
מגיש/ממציא
שם:
GAVRI RAFAELOV
פטנטים דומים
התקן ושיטה לבחינת חפץ
מכשיר ושיטה לבחינת דגימת שיער
מתקן ושיטה לבדיקת חזית הגל היוצאת מעצמים מראתיים ושקופים
מכשיר ושיטה לבדיקת פרוסות מוליכות למחצה
שיטה ומערכת לבדיקת איזור