קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
תהליך למניעת נזק לחומרים בעלי K נמוך נקבוביים בעת הסרת מיסוך
פטנט 176101
כללי
מספר פטנט:
176101
שם האמצאה:
תהליך למניעת נזק לחומרים בעלי K נמוך נקבוביים בעת הסרת מיסוך
שם באנגלית:
METHOD OF PREVENTING DAMAGE TO POROUS LOW-K MATERIALS DURING RESIST STRIPPING
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2005/060548
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
16/12/2003
דין קדימה
10/738280
ארה"ב (US)
01/12/2004
בקשה בינלאומית
PCT/US/2004/040267
ארה"ב (US)
04/06/2006
בקשת PCT
176101
ישראל (IL)
31/10/2010
פרסום לאומי
176101
ישראל (IL)
מגיש
שם:
LAM RESEARCH CORPORATION
כתובת:
4650 CUSHING PARKWAY FREMONT, CA 94538-6470 , US
מדינה:
ארה"ב
מגיש/ממציא
שם:
RAO ANNAPRAGADA
מגיש/ממציא
שם:
KENJI TAKESHITA
מסירת הודעות
שם:
ג'יי אמ בי דייויס בן-דוד
כתובת:
מרכז בק למדע, הרטום 8, הר חוצבים, ירושלים 9777401
מדינה:
ישראל
טלפון:
02-5714777
פקס:
02-5714455
דוא"ל:
ipo@jmb.co.il
סוכן
שם:
ג'יי אמ בי דייויס בן-דוד
כתובת:
מרכז בק למדע, הרטום 8, הר חוצבים, ירושלים 9777401
מדינה:
ישראל
טלפון:
02-5714777
פקס:
02-5714455
דוא"ל:
ipo@jmb.co.il
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
חומרים פלסטיים נקבוביים
שיטה לאטימת קרקע וחמרים נקבוביים אחרים
בליל מחסום עבור דיאלקטרים בעלי K נמוך
שיטה חדשה להכנת חומרים קרמיים נקבוביים
תכשירים להסרת פולימר מימי למחצה בעלי תאימות משופרת לנחושת, טונגסטן ודיאלקטרים נקבוביים בעלי K נמוך