כללי
מספר פטנט:
175644
שם האמצאה:
מערכת ושיטה לשיוור מבני נצנוץ גבישיים עבור הדמיה ממוחשבת טומוגרפית
שם באנגלית:
SYSTEM AND METHOD OF ALIGNING SCINTILLATOR CRYSTALLINE STRUCTURES FOR COMPUTED TOMOGRAPHY IMAGING
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2002/050569 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 09/681067 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/US/2001/048810 ארה"ב (US)
בקשת PCT 175644 ישראל (IL)
פרסום לאומי 175644 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
GE MEDICAL SYSTEMS GLOBAL TECHNOLOGY COMPANY, LLC