קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
מערכת ושיטה לשיוור מבני נצנוץ גבישיים עבור הדמיה ממוחשבת טומוגרפית
פטנט 175644
כללי
מספר פטנט:
175644
שם האמצאה:
מערכת ושיטה לשיוור מבני נצנוץ גבישיים עבור הדמיה ממוחשבת טומוגרפית
שם באנגלית:
SYSTEM AND METHOD OF ALIGNING SCINTILLATOR CRYSTALLINE STRUCTURES FOR COMPUTED TOMOGRAPHY IMAGING
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2002/050569
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
19/12/2000
דין קדימה
09/681067
ארה"ב (US)
18/12/2001
בקשה בינלאומית
PCT/US/2001/048810
ארה"ב (US)
16/05/2006
בקשת PCT
175644
ישראל (IL)
05/09/2006
פרסום לאומי
175644
ישראל (IL)
מגיש
שם:
GE MEDICAL SYSTEMS GLOBAL TECHNOLOGY COMPANY, LLC
פטנטים דומים
מערכת ושיטה לשיוור מבני נצנוץ גבישיים עבור הדמיה ממוחשבת טומוגרפית
מערכת ושיטה להדמייה טומוגרפית ממוחשבת בשימוש מנצנץ ממוקד
שיטות והתקן לגילוי תנועת קרניים במערכות הדמייה טומוגרפיות ממוחשבות
מערכת תצוגה בטומוגרפיה ממוחשבת בעל כיול עצמי
שיטה והתקן לשיפור הדיוק בהדמיית קרןחרוטית בטומוגרפיה ממוחשבת