כללי
מספר פטנט:
150811
שם האמצאה:
מערכת ושיטה לשיוור מבני נצנוץ גבישיים עבור הדמיה ממוחשבת טומוגרפית
שם באנגלית:
SYSTEM AND METHOD OF ALIGNING SCINTILLATOR CRYSTALLINE STRUCTURES FOR COMPUTED TOMOGRAPHY IMAGING
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
פרסום בינלאומי 2002/050569 הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
דין קדימה 09/681067 ארה"ב (US)
בקשה בינלאומית PCT/US/2001/048810 ארה"ב (US)
בקשת PCT 150811 ישראל (IL)
פרסום לאומי 150811 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
GE MEDICAL SYSTEMS GLOBAL TECHNOLOGY COMPANY, LLC
כתובת:
3000 NORTH GRANDVIEW BOULEVARD WAUKESHA, WISCONSIN 53188 , US
מדינה:
ארה"ב
  מסירת הודעות
שם:
זליגסון גבריאלי ושות'
כתובת:
רח' יבנה 31, תל אביב 61013
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-5661446
פקס:
03-5608458
דוא"ל:
mail@sgl.co.il
  סוכן
שם:
זליגסון גבריאלי ושות'
כתובת:
רח' יבנה 31, תל אביב 61013
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-5661446
פקס:
03-5608458
דוא"ל:
mail@sgl.co.il