קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
התקן לבדיקה דו מימדית וטופוגרפית בו–זמנית
פטנט 169327
כללי
מספר פטנט:
169327
שם האמצאה:
התקן לבדיקה דו מימדית וטופוגרפית בו–זמנית
שם באנגלית:
APPARAUS FOR SIMULTANEOUS 2-D AND TOPGRAPHICAL INSPECTION
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2004/063668
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
09/01/2003
דין קדימה
60/438783
ארה"ב (US)
09/01/2004
בקשה בינלאומית
PCT/IL/2004/000019
ישראל (IL)
21/06/2005
בקשת PCT
169327
ישראל (IL)
04/07/2007
פרסום לאומי
169327
ישראל (IL)
מגיש
שם:
ORBOTECH LTD.
פטנטים דומים
שיטה והתקן לבדיקה וניקוי בו–זמנית של תדמית
התקן לאנליזה סימולטנית
תמיסות לאנליזה סימולטנית
מערכת להטלות בו-זמניות של דגמים מרובי פאזות-מוזזות לבחינה תלת-ממדיתשל אובייקט
שיטה ומכשיר להעברה בו זמנית של נתונים וקול