קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
שיטה והתקן לבדיקה וניקוי בו–זמנית של תדמית
פטנט 171865
כללי
מספר פטנט:
171865
שם האמצאה:
שיטה והתקן לבדיקה וניקוי בו–זמנית של תדמית
שם באנגלית:
METHOD AND APPARATUS FOR SIMULTANEOUS INSPECTION AND CLEANING OF A STENCIL
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2005/081599
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
19/02/2004
דין קדימה
10/783123
ארה"ב (US)
11/02/2005
בקשה בינלאומית
PCT/US/2005/004695
ארה"ב (US)
09/11/2005
בקשת PCT
171865
ישראל (IL)
11/02/2007
פרסום לאומי
171865
ישראל (IL)
מגיש
שם:
SPEEDLINE TECHNOLOGIES, INC.
כתובת:
16 FORGE PARK FRANKLIN, MA 02038 , US
מדינה:
ארה"ב
מסירת הודעות
שם:
זליגסון גבריאלי ושות'
כתובת:
רח' יבנה 31, תל אביב 61013
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-5661446
פקס:
03-5608458
דוא"ל:
mail@sgl.co.il
סוכן
שם:
זליגסון גבריאלי ושות'
כתובת:
רח' יבנה 31, תל אביב 61013
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-5661446
פקס:
03-5608458
דוא"ל:
mail@sgl.co.il
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
אוכסימים של דיבנזוציקלו - הפטנון ודיבזוציקלו - אוקטאנון והכנתם
בנזותיאזופינים ובנזותיאזוצינים והכנתם
4- ו-7-בנזופוראניל קרבאמטים ותיונוקרבאמטים
תהליך והתקן למילוי ולסגירה של מיכלים
שיטה והתקן להכנסת שכבות חפצים, כגוןפירות וכדומה, לתיבות