קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
שיטה ומערכת למדידות ספקטרום
פטנט 165237
כללי
מספר פטנט:
165237
שם האמצאה:
שיטה ומערכת למדידות ספקטרום
שם באנגלית:
METHOD AND SYSTEM FOR SPECTRAL MEASUREMENTS
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
16/11/2004
בקשה לאומית
165237
ישראל (IL)
18/12/2005
פרסום לאומי
165237
ישראל (IL)
מגיש
שם:
NOVA MEASURING INSTRUMENTS LTD.
פטנטים דומים
התקן ושיטה לקביעה ביומטרית על בסיס מדידות אופטיות ספקטרליות
מכשיר ושיטה להדמיה ספקטרלית
שיטה ומכשיר לאנליסה ספקטרית של דמויות
שיטה ומכשיר לניתוח ספקטראלי של דמויות
מערכת ושיטה לייצור ספקטרום במכ" ם