קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
התקן ושיטה לקביעה ביומטרית על בסיס מדידות אופטיות ספקטרליות
פטנט 159108
כללי
מספר פטנט:
159108
שם האמצאה:
התקן ושיטה לקביעה ביומטרית על בסיס מדידות אופטיות ספקטרליות
שם באנגלית:
APPARATUS AND METHOD OF BIOMETRIC DETERMINATION ON THE BASIS OF SPECTRAL OPTICAL MEASUREMENTS
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2002/099393
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
05/06/2001
דין קדימה
09/874740
ארה"ב (US)
15/01/2002
בקשה בינלאומית
PCT/US/2002/001091
ארה"ב (US)
27/11/2003
בקשת PCT
159108
ישראל (IL)
31/10/2010
פרסום לאומי
159108
ישראל (IL)
מגיש
שם:
LUMIDIGM, INC.
כתובת:
800 BRADBURY SE, SUITE 213 ALBUQUERQUE NM 87106 , US
מדינה:
ארה"ב
מסירת הודעות
שם:
ד" ר שלמה כהן ושות'
כתובת:
אבן גבירול 124, תל אביב 62038
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-5271919
פקס:
03-5272666
דוא"ל:
ptm@shlomocohen.co.il
סוכן
שם:
ד" ר שלמה כהן ושות'
כתובת:
אבן גבירול 124, תל אביב 62038
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-5271919
פקס:
03-5272666
דוא"ל:
ptm@shlomocohen.co.il
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
שיטה ומערכת למדידות ספקטרום
גלאי אופטי בי-ספקטרלי
תא אופטי למדידות ספקטרוסקופיה
תריס אופטי, ספקטרומטר ושיטה לניתוח ספקטרלי
תריס אופטי ספקטרומטר הכולל התריס האופטי ושיטה לניתוח ספקטרלי