שיטה ומתקן לסיווג פגמים - פטנט 161087 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 161087
שם האמצאה:: שיטה ומתקן לסיווג פגמים
שם באנגלית:: METHOD AND APPARATUS FOR CLASSIFYING DEFECTS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
28/03/2003	דין קדימה	2003-089686	יפן (JP)
25/03/2004	בקשה לאומית	161087	ישראל (IL)
10/12/2006	פרסום לאומי	161087	ישראל (IL)

מגיש

שם:: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION
כתובת:: 24-14,NISHISHINBASHI 1-CHOME MINATO-KU, TOKYO , JP
מדינה:: יפן

מסירת הודעות

שם:: לוצאטו את לוצאטו
כתובת:: גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:: ישראל
טלפון:: 0732262626
פקס:: 073-2262627
דוא"ל:: ilpto@luzzatto.co.il

סוכן

שם:: לוצאטו את לוצאטו
כתובת:: גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:: ישראל
טלפון:: 0732262626
פקס:: 073-2262627
דוא"ל:: ilpto@luzzatto.co.il

מסמכים

פטנטים דומים