שיטה למיון פגמים - פטנט 154676 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 154676
שם האמצאה:: שיטה למיון פגמים
שם באנגלית:: METHOD FOR CLASSIFYING DEFECTS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
12/08/2002	דין קדימה	2002-234302	יפן (JP)
27/02/2003	בקשה לאומית	154676	ישראל (IL)
30/06/2010	פרסום לאומי	154676	ישראל (IL)

מגיש

שם:: HITACHI, LTD.
כתובת:: 6, KANDA SURUGADAI 4-CHOME, CHIYODA-KU, TOKYO 101-8010 , JP
מדינה:: יפן

מסירת הודעות

שם:: לוצאטו את לוצאטו
כתובת:: גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:: ישראל
טלפון:: 0732262626
פקס:: 073-2262627
דוא"ל:: ilpto@luzzatto.co.il

סוכן

שם:: לוצאטו את לוצאטו
כתובת:: גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:: ישראל
טלפון:: 0732262626
פקס:: 073-2262627
דוא"ל:: ilpto@luzzatto.co.il

מסמכים

פטנטים דומים