מתקן לבדיקת פגמים ושיטה לבדיקת פגמים - פטנט 151929 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 151929
שם האמצאה:: מתקן לבדיקת פגמים ושיטה לבדיקת פגמים
שם באנגלית:: DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
28/09/2001	דין קדימה	2001-302108	יפן (JP)
25/09/2002	בקשה לאומית	151929	ישראל (IL)
11/02/2007	פרסום לאומי	151929	ישראל (IL)

מגיש

שם:: HITACHI, LTD.
כתובת:: 6, KANDA SURUGADAI 4-CHOME, CHIYODA-KU, TOKYO 101-8010 , JP
מדינה:: יפן

מסירת הודעות

שם:: לוצאטו את לוצאטו
כתובת:: גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:: ישראל
טלפון:: 0732262626
פקס:: 073-2262627
דוא"ל:: ilpto@luzzatto.co.il

סוכן

שם:: לוצאטו את לוצאטו
כתובת:: גן תעשייה, עומר, באר שבע 84152
מדינה:: ישראל
טלפון:: 0732262626
פקס:: 073-2262627
דוא"ל:: ilpto@luzzatto.co.il

מסמכים

פטנטים דומים