קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
שיטת איבחון משופרת לגילוי רקמה דיספלסטית אפיתילית
פטנט 148429
כללי
מספר פטנט:
148429
שם האמצאה:
שיטת איבחון משופרת לגילוי רקמה דיספלסטית אפיתילית
שם באנגלית:
IMPROVED DIAGNOSTIC METHOD FOR DETECTING DYSPLASTIC EPITHELIAL TISSUE
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
פרסום בינלאומי
2002/007693
הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
20/07/2000
בקשה בינלאומית
PCT/US/2000/020017
ארה"ב (US)
27/02/2002
בקשת PCT
148429
ישראל (IL)
12/09/2002
פרסום לאומי
148429
ישראל (IL)
מגיש
שם:
ZILA BIOTECHNOLOGY, INC
מגיש
שם:
ZILA, INC.
פטנטים דומים
שיטה לגילוי ולהריגה של תאי סרטן אפיתליים
שיטה לגילוי נשירת תאים אפיתליים לא–נורמלית
שיטה לגילוי אנטיגנים או נוגדנים
תרכובות לצביעה תוך גופית ושיטות לשימושן לזהות רקמות לא נורמליות
שיטה ותרכובת לתיקון תאים אפיתליאליים, ותאים ורקמות אחרים