שיטה לגילוי נשירת תאים אפיתליים לא–נורמלית - פטנט 130842 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 130842
שם האמצאה:: שיטה לגילוי נשירת תאים אפיתליים לא–נורמלית
שם באנגלית:: METHOD FOR DETECTING ABNORMAL EPITHELIAL CELL SHEDDING

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	1998/033530	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
04/02/1997	בקשה בינלאומית	PCT/US/1997/001897	ארה"ב (US)
08/07/1999	בקשת PCT	130842	ישראל (IL)
15/05/2007	פרסום לאומי	130842	ישראל (IL)

מגיש

שם:: PHANOS TECHNOLOGIES, INC.
כתובת:: SUITE 250 9348 CIVIC CENTER DRIVE BEVERLY HILLS , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים