בחינת היסטוגרמה בתוך מעגל משולב - פטנט 147110 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 147110
שם האמצאה:: בחינת היסטוגרמה בתוך מעגל משולב
שם באנגלית:: ON-CHIP HISTOGRAM TESTING

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
23/03/2001	דין קדימה	815751	ארה"ב (US)
13/12/2001	בקשה לאומית	147110	ישראל (IL)
01/08/2006	פרסום לאומי	147110	ישראל (IL)

מגיש

שם:: IBM CORPORATION
כתובת:: NEW ORCHARD ROAD, ARMONK, N.Y.10504 , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: IBM ישראל - מחלקת קניין רוחני - מעבדות מחקר ופיתוח
כתובת:: קמפוס אוניברסיטת חיפה הר הכרמל, חיפה 31905
מדינה:: ישראל
דוא"ל:: suzanne@il.ibm.com

סוכן

שם:: IBM ישראל - מחלקת קניין רוחני - מעבדות מחקר ופיתוח
כתובת:: קמפוס אוניברסיטת חיפה הר הכרמל, חיפה 31905
מדינה:: ישראל
דוא"ל:: suzanne@il.ibm.com

סוכן

שם:: סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:: שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-9455122
פקס:: 08-9454556
דוא"ל:: colbpat@stc.co.il

מסמכים

פטנטים דומים