כללי
מספר פטנט:
147065
שם האמצאה:
בדיקת הסטוגרמות על-השבב
שם באנגלית:
ON-CHIP HISTOGRAM TESTING
  בקשות ופרסומים
תאריך סוג מספר מדינה
דין קדימה 815751 ארה"ב (US)
בקשה לאומית 147065 ישראל (IL)
פרסום לאומי 147065 ישראל (IL)
  מגיש
שם:
INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION