קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
בדיקת הסטוגרמות על-השבב
פטנט 147065
כללי
מספר פטנט:
147065
שם האמצאה:
בדיקת הסטוגרמות על-השבב
שם באנגלית:
ON-CHIP HISTOGRAM TESTING
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
23/03/2001
דין קדימה
815751
ארה"ב (US)
12/12/2001
בקשה לאומית
147065
ישראל (IL)
14/08/2002
פרסום לאומי
147065
ישראל (IL)
מגיש
שם:
INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION
פטנטים דומים
בחינת היסטוגרמה בתוך מעגל משולב
סיים שבב הפעל
מיקרוסקופ D4 LIGHTFIELD על שבב
הקבצה ויישור נתונים על גבי שבב
מערכות שוויון היסטוגרם