שיטה לאפיון שכבות דקות - פטנט 145699 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 145699
שם האמצאה:: שיטה לאפיון שכבות דקות
שם באנגלית:: METHOD OF THIN FILM CHARACTERIZATION

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
30/09/2001	בקשה לאומית	145699	ישראל (IL)
10/12/2006	פרסום לאומי	145699	ישראל (IL)

מגיש

שם:: NOVA MEASURING INSTRUMENTS LTD.
כתובת:: P.O.B. 266, WEIZMANN SCIENTIFIC PARK, REHOVOT 76100 , IL
מדינה:: ישראל

מסירת הודעות

שם:: נובה מכשירי מדידה בע" מ
כתובת:: וייצמן פארק למדע, רחובות 76100
מדינה:: ישראל

סוכן

שם:: נובה מכשירי מדידה בע" מ
כתובת:: וייצמן פארק למדע, רחובות 76100
מדינה:: ישראל

מסמכים

פטנטים דומים