שיטה לבחינת תאים באתר - פטנט 142567 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 142567
שם האמצאה:: שיטה לבחינת תאים באתר
שם באנגלית:: IN SITU METHOD OF ANALYZING CELLS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
	פרסום בינלאומי	2000/031534	הארגון העולמי לקניין רוחני (WO)
20/11/1998	דין קדימה	196690	ארה"ב (US)
16/11/1999	בקשה בינלאומית	PCT/US/1999/027000	ארה"ב (US)
12/04/2001	בקשת PCT	142567	ישראל (IL)
11/02/2007	פרסום לאומי	142567	ישראל (IL)

מגיש

שם:: APPLIED SPECTRAL IMAGING LTD.
כתובת:: 4 MATECHET ST. P.O. BOX 101 MIGDAL HAEMEK 10551 , IL
מדינה:: ישראל

מסירת הודעות

שם:: ג'י.אי.ארליך (1995) בע" מ
כתובת:: מגדל איילון, קומה 15 ,רחוב מנחם בגין 11, רמת גן 52521
מדינה:: ישראל
טלפון:: 09-9570590
פקס:: 09-9570595
דוא"ל:: israel@ipatent.co.il

סוכן

שם:: ג'י.אי.ארליך (1995) בע" מ
כתובת:: מגדל איילון, קומה 15 ,רחוב מנחם בגין 11, רמת גן 52521
מדינה:: ישראל
טלפון:: 09-9570590
פקס:: 09-9570595
דוא"ל:: israel@ipatent.co.il

מסמכים

פטנטים דומים