מכשיר ושיטה לבדיקה מקומית של קרני -X של תאים אלקטרוכימיים - פטנט 116778 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 116778
שם האמצאה:: מכשיר ושיטה לבדיקה מקומית של קרני -X של תאים אלקטרוכימיים
שם באנגלית:: APPARATUS AND METHOD FOR IN SITU X-RAY STUDY OF ELECTROCHEMICAL CELLS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
17/01/1995	דין קדימה	373830	ארה"ב (US)
16/01/1996	בקשה לאומית	116778	ישראל (IL)
14/05/1996	פרסום לאומי	116778	ישראל (IL)

מגיש

שם:: BELL COMMUNICATIONS RESEARCH, INC.

פטנטים דומים