התקן ושיטה לבדיקת כשלון מגע בהתקני מוליכים למחצה - פטנט 127356 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 127356
שם האמצאה:: התקן ושיטה לבדיקת כשלון מגע בהתקני מוליכים למחצה
שם באנגלית:: APPARATUS AND METHOD FOR CONTACT FAILURE INSPECTION IN SEMICONDUCTORDEVICES

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
13/06/1998	דין קדימה	98-22213	דרום קוריאה (KR)
29/09/1998	דין קדימה	162267	ארה"ב (US)
01/12/1998	בקשה לאומית	127356	ישראל (IL)
10/04/2003	פרסום לאומי	127356	ישראל (IL)

מגיש

שם:: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
כתובת:: 416, MAETAN-DONG, PALDAL-GU SUWON-SHI, KYUNGKI-DO 442-370 , KR
מדינה:: דרום קוריאה

מסירת הודעות

שם:: סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:: שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-9455122
פקס:: 08-9454556
דוא"ל:: colbpat@stc.co.il

סוכן

שם:: סנפורד ט. קולב ושות'
כתובת:: שער הגיא 4, מרמורק, רחובות 76122
מדינה:: ישראל
טלפון:: 08-9455122
פקס:: 08-9454556
דוא"ל:: colbpat@stc.co.il

מסמכים

פטנטים דומים