מתקן ושיטה עבור מדידות אופטיות ברזולוצית זמן - פטנט 116789 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 116789
שם האמצאה:: מתקן ושיטה עבור מדידות אופטיות ברזולוצית זמן
שם באנגלית:: DEVICE AND METHOD FOR TIME-RESOLVEDOPTICAL MEASUREMENTS

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
24/01/1995	דין קדימה	377310	ארה"ב (US)
16/01/1996	בקשה לאומית	116789	ישראל (IL)
11/04/1999	פרסום לאומי	116789	ישראל (IL)

מגיש

שם:: MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY
כתובת:: 77 MASSACHUSETTS AVENUE CAMBRIDGE, MASSACHUSETTS 02142-1324 , US
מדינה:: ארה"ב

מגיש/ממציא

שם:: JOHN A. ROGERS

מגיש/ממציא

שם:: KEITH A. NELSON

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: ד" ר מרק פרידמן בע" מ
כתובת:: מגדל משה אביב, ק.54 , רחוב ז'בוטינסקי, רמת- גן 52520
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-6114100
דוא"ל:: patents@friedpat.com

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים