קונץ פטנט
ראשי
חיפוש פטנטים
אודות
צור קשר
שיטות והתקנים לצפיפות ספקטרלית של ספקטרום מורחב
פטנט 111470
כללי
מספר פטנט:
111470
שם האמצאה:
שיטות והתקנים לצפיפות ספקטרלית של ספקטרום מורחב
שם באנגלית:
SPREAD SPECTRUM SPECTRAL DENSITY METHODS AND APPARATUS
בקשות ופרסומים
תאריך
סוג
מספר
מדינה
01/11/1993
דין קדימה
146499
ארה"ב (US)
31/10/1994
בקשה לאומית
111470
ישראל (IL)
14/08/1997
פרסום לאומי
111470
ישראל (IL)
מגיש
שם:
XIRCOM WIRELESS, INC.
כתובת:
1365 GARDEN OF THE GODS ROAD COLORADO SPRINGS COLORADO , US
מדינה:
ארה"ב
מסירת הודעות
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il
סוכן
שם:
ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:
רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:
ישראל
טלפון:
03-7109333
פקס:
03-5606405
דוא"ל:
rasham@rcip.co.il
מסמכים
פרטי הבקשה
שרטוטים
תביעות
פטנטים דומים
בקרה של הספק אנרגית פס-תדר באות מרוכב על ידי איפנון תת-נשא שאינו נושא נתונים
מכשיר ושיטה להדמיה ספקטרלית
שיטה ומערכת למדידות ספקטרום
זרזים ספקטרליים ושיטות להחלפת זרזים פיזיקליים בזרזים ספקטרליים במערכת תגובה כימית
שיטה ומכשיר לאנליסה ספקטרית של דמויות