מד טמפרטורה רב-נקודתי למעקב מוליכים למחצה תוך כדי תהליך - פטנט 110549 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 110549
שם האמצאה:: מד טמפרטורה רב-נקודתי למעקב מוליכים למחצה תוך כדי תהליך
שם באנגלית:: MULTIPOINT TEMPERATURE MONITORING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR WAFERS DURING PROCESSING

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
02/08/1994	בקשה לאומית	110549	ישראל (IL)
08/02/1998	פרסום לאומי	110549	ישראל (IL)

מגיש

שם:: C.I. SYSTEMS (ISRAEL) LTD.
כתובת:: INDUSTRIAL PARK P. O. BOX 147 MIGDAL HAEMEK , IL
מדינה:: ישראל

מסירת הודעות

שם:: ד" ר מרק פרידמן בע" מ
כתובת:: מגדל משה אביב, ק.54 , רחוב ז'בוטינסקי, רמת- גן 52520
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-6114100
דוא"ל:: patents@friedpat.com

סוכן

שם:: ד" ר מרק פרידמן בע" מ
כתובת:: מגדל משה אביב, ק.54 , רחוב ז'בוטינסקי, רמת- גן 52520
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-6114100
דוא"ל:: patents@friedpat.com

מסמכים

פטנטים דומים