שיטת סריקה לקביעה של חיידקים גרם שליליים בשתן - פטנט 80660 - קונץ פטנט

כללי

מספר פטנט:: 80660
שם האמצאה:: שיטת סריקה לקביעה של חיידקים גרם שליליים בשתן
שם באנגלית:: SCREENING METHOD FOR THE DETERMINATION OF GRAM NEGATIVE BACTERIA IN URINE

בקשות ופרסומים

תאריך	סוג	מספר	מדינה
03/12/1985	דין קדימה	803,963	ארה"ב (US)
17/11/1986	בקשה לאומית	80660	ישראל (IL)
30/06/1991	פרסום לאומי	80660	ישראל (IL)

מגיש

שם:: MILES LABORATORIES, INC.
כתובת:: ELKHART, INDIANA , US
מדינה:: ארה"ב

מסירת הודעות

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

סוכן

שם:: ריינהולד כהן ושותפיו
כתובת:: רחוב הברזל 26א', רמת החייל 69710
מדינה:: ישראל
טלפון:: 03-7109333
פקס:: 03-5606405
דוא"ל:: rasham@rcip.co.il

מסמכים

פטנטים דומים